Каково преимущество использования электронной микроскопии перед световой
Автор MuRёХ@ задал вопрос в разделе Наука, Техника, Языки
Каковы приимущества электронного микроскопа? и получил лучший ответ
Ответ от Leonid[гуру]
Преимущество у него одно, зато существенное: разрешение.
Для любого микроскопа разрешение (то есть минимальный размер объекта, который в такой микросоп ещё можно разглядеть) , определяется длиной волны. Для оптического микроскопа - длиной волны света. И для видимого света получается порядка долей микрона. Ну, 0,3-0,5 микрона в лучшем случае, и то для иммерсионных объективов.
В электронном микроскопе в чистом виде используются квантовая дуальность частиц. Электрон - не только частица, но и волна. И длина такой волны оказывается намного меньше, чем длина световой волны, - ТЫСЯЧНЫЕ доли микрона (не десятые, как для света). Поэтому в электронный микроскоп можно разглядеть то, что в обычный увидеть принципиально невозможно.
Во-первых лучший зум, во-вторых технология новее. Вот и все...
преимущества перед чем?
сканирующий электронный микроскоп имеет свои преимущества, включая способность визуализировать сравнительно большую область образца, способность исследовать массивные мишени (а не только тонкие пленки) , а также разнообразие аналитических методов, позволяющих измерять фундаментальные характеристики материала мишени. В зависимости от конкретного прибора и параметров эксперимента, может быть получено разрешение от десятков до единиц нанометров
Э. м. смешанного типа. Сочетание в одном приборе принципов формирования изображения с неподвижным пучком (как в ПЭМ - просвечивающем электронном микроскопе) и сканирования тонкого зонда по объекту позволило реализовать в таком электронном микроскопе преимущества ПЭМ, РЭМ и ПРЭМ. В настоящее время во всех ПЭМ предусмотрена возможность наблюдения объектов в растровом режиме (с помощью конденсорных линз и объектива, создающих уменьшенное изображение источника электронов, которое сканируется по объекту отклоняющими системами) . Кроме изображения, сформированного неподвижным пучком, получают растровые изображения на экранах ЭЛТ с использованием прошедших и вторичных электронов, характеристические рентгеновские спектры и т. д. Оптическая система такого ПЭМ, расположенная после объекта, даёт возможность работать в режимах, неосуществимых в других приборах. Например, можно одновременно наблюдать электронограмму на экране ЭЛТ и изображение того же объекта на экране прибора.